诱导结合プラズマ発光分析法によるファインセラミック中不纯物の分析 [P.113-118] [PDF: 7P/419KB]
Determination of Impurities in Fine Ceramics
by Inductively Coupled Plasma Atomic Emission
Spectrometry
岡野 輝雄(Teruo Okano) 藤本 京子(Kyoko
Fujimoto) 松村 泰治(Yasuharu Matsumura) 針間矢 宣一(Sen-ichi
Harimaya)
イオン交换分离-诱导结合プラズマ発光分光分析法による高纯度タンタル中の不纯物の定量 [P.119-123] [PDF: 6P/387KB]
Determination of Impurities in High Purity
Tantalum by Inductively Coupled Plasma Atomic
Emission Spectrometry with Ion Exchange Method
高橋 弘幸(Hiroyuki Takahashi) 針間矢 宣一(Sen-ichi
Harimaya)
ガラスビード蛍光X线分析法による颁辞-尝补-厂谤复合酸化物の组成分析 [P.124-128] [PDF: 6P/365KB]
XRF Analysis on Multiple Oxide of Cobalt,
Lanthanum, and Strontium by Glass Bead Technique
満尾 勝(Masaru Mitsuo) 杉原 孝志(Takashi
Sugihara) 小石 想一(Souishi Koishi)
新製品?新情报
400办痴高分解能分析电子顕微镜の材料研究への応用 [P.129-131] [PDF: 3P/188KB]
Application of a 400kV High-Resolution Analytical
Electron Microscope to Materials Research
下村 順一(Jun-ichi Shimomura) 綿引 純雄(Sumio
Watahiki) 清水 真人(Masato Shimizu)
自动分析と画像処理机能を备えたX线マイクロアナライザー [P.132-134] [PDF: 3P/213KB]
Electron Probe Micro Analyzer with Automatic
Analyzing and Image Processing System
槇石 規子(Noriko Makiishi) 山本 公(Akira
Yamamoto) 松村 泰治(Yasuharu Matsumura)
二次イオン质量分析装置 [P.135-137] [PDF: 3P/248KB]
Secondary Ion Mass Spectrometer
鈴木 敏子(Toshiko Suzuki) 藤村 亨(Toru
Fujimura) 長沼 啓一(Keiichi Naganuma) 清水 真人(Masato
Shimizu)
微小领域测定X线光电子分光装置 [P.138-140] [PDF: 3P/144KB]
Small Area X-Ray Photoelectron Spectroscopy
山下 孝子(Takako Yamashita) 鈴木 敏子(Toshiko
Suzuki) 清水 真人(Masato Shimizu)